激光粒度測試儀是一種性能優(yōu)良的粒度分布儀，它采用進口的半導體激光器，功率大、壽命長、單色性好；采用專門設(shè)計的由大規(guī)模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列；采用蠕動循環(huán)泵和微量樣品池兩種進樣方式；采用全程米氏理論和多種分布模型的數(shù)據(jù)處理方式；采用高精度的數(shù)據(jù)傳輸與處理電路等一系列先進的技術(shù)和制造工藝，使該儀器具有準確可靠、測試速度快、重復(fù)性好、操作簡便等突出特點，是集激光技術(shù)、計算機技術(shù)、光電子技術(shù)于一體的新一代粒度測試儀器。

　　激光粒度測試儀的測量原理：

　　當光束前進過程中遇到顆粒時，將發(fā)生散射現(xiàn)象，散射光與光束初始傳播方向形成一個夾角θ，散射角的大小與顆粒的粒徑相關(guān)，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越小;顆粒越小，產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。這樣，測量不同角度上的散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。

　　隨著粉體技術(shù)的發(fā)展，對粒度分析儀的性能要求在逐步的提高，特別是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達到幾百甚至幾十個納米，測量上限要求達到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度測試儀設(shè)計者提出了極大的挑戰(zhàn)。

　　顆粒越細，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內(nèi)都有分布。為了拓展儀器的測量下限。需要有非常規(guī)的光學設(shè)計。顆粒越小，分布在360度空間范圍的散射光光強差越小，當顆粒小到一定極限，光強差將小得幾乎難以被分辨出來。這時就到了激光粒度測試儀的測量下限了。光學設(shè)計上的障礙和散射光本身的特性決定了常規(guī)激光粒度測試儀的測量下限一般在0.02微米左右。當顆粒較大時，同樣也會遇到技術(shù)困難。大顆粒的散射角度很小，不容易分辨和測量。要想有效分辨大顆粒的光強分布?？梢院唵蔚睦L聚焦鏡頭的焦距(例如500甚至1000毫米以上)，但是焦距大將導致激光粒度測試儀的體積大幅增加，且非常不便于小顆粒的大角度散射光探測。同時對鏡頭的加工精度要求也會更高。這個技術(shù)難點使得常規(guī)設(shè)計的激光粒度測試儀的真實測量上限很難超過1200微米。